Химический состав - спектрометр Shimadzu EDX-800P

Энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр  серии EDX 800 HS (Shimadzu) предназначен для экспресс анализа элементного состава образцов. Диапазон определяемых элементов - от углерода до урана.

 

Спектрометры серии EDX предназначены для быстрого неразрушающего определения качественного и количественного элементного состава твердых и жидких образцов, порошков, гранул, пластин, пленок.

Технические характеристики:

1)   Аналитический диапазон: 6C – 92U (трубка с анодом Rh, 5 - 50 кВ, ток 1 - 1000 мкА)

2)   Размер камеры для загрузки образцов: диаметр 300 мм, высота 150 мм

3)   Коллиматоры: сменные, диаметром 1, 3, 5, 10 мм (возможен анализ включений в образец)

4)   Среда съёмки: воздух, вакуум (25 Па, для съёмки лёгких элементов, кроме жидких образцов)

5)   Возможна съёмка жидких образцов в полипропиленовой кювете на воздухе (без возможности анализа на наличие углерода)

6)   Возможен анализ порошкообразных образцов с запрессовкой в таблетки диаметром 13 мм с H3BO3, а также в полипропиленовой кювете (без возможности анализа на наличие углерода)

7)   Методы (полу)количественного анализа:

a.   Метод фундаментальных параметров (не требует наличия стандартных образцов)

b.   С использованием калибровочной кривой (требует наличия эталонных образцов)

c.   Определение толщины многослойных металлических покрытий

d.   Определение концентраций водных растворов неорганических соединений (по согласованию со специалистами РЦ)

8)   Предел чувствительности: 10 ppm(в зависимости от анализируемого элемента, состава и природы образца)

Требования к образцам:

1)   Минимальных масса порошкообразных образцов для съёмки в полипропиленовой кювете - 0,1 г, для жидких образцов - 2 мл

2)   Отсутствие токсичных, едких и летучих компонентов

3)   Для съёмки в вакууме (для легких элементов) образцы должны быть высушены в сушильном шкафу

Необходимые характеристики:

1)   Интересующие элементы, форма соединений входящих в образец (простые в-ва, оксиды, другое)

2)   Возможность съёмки образца в вакууме

(Полу)количественный анализ проводится после согласования со специалистом РЦ

Печать