Настольная испытательная машина AG-50kNXD (Shimadzu) позволяет в широком диапазоне нагрузок (50Н до 50 кН) проводить испытания на растяжение, излом и сжатие различных материалов, построение в автоматическом режиме деформационных кривых в стандартных координатах и определение механических характеристик материалов. Микротвердомер HMV-2T (Shimadzu) для определения твердости по Виккерсу, Кнупу и Бринеллю. Прилагаемая нагрузка от 0.01-120 г. Время воздействия 5-1000 сек. Автоматизированная система ASAP 2020MP (Micromeritics) используется для анализа площади поверхности и исследования пористой структуры дисперсных материалов. Позволяет проводить полный анализ микро- и мезопор, их распределения по размерам и определение площади поверхности, теплоты и скорости адсорбции. Диапазон измерения диаметра пор от 0.35 до 500 нм. Возможен анализ образцов с удельной поверхностью от 0.2 м2. Лазерный дифракционный анализатор размера частиц Mastersizer 3000 (лазерный гранулометр) – это универсальный инструментарий для быстрого и точного гранулометрического анализа (измерения распределения частиц по размерам) суспензий, эмульсий и сухих порошкообразных материалов. Широкий диапазон, перекрывающий размеры от миллиметров до нанометров, исключительная производительность и надежные результаты измерения, не зависящие от оператора - все это в исключительно компактном корпусе. Прибор для термических испытаний материалов SETSYS Evolution 16 (Setaram, Франция) позволяет проводить термогравиметрический анализ (ТГА), - дифференциально-термический анализ (ДTA), дифференциально-сканирующую калориметрию (ДСК) в диапазоне температур от комнатной до 1600оС. Энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр серии EDX 800 HS (Shimadzu) предназначен для экспресс анализа элементного состава образцов. Диапазон определяемых элементов - от углерода до урана. Спектральный эллипсометрический комплекс «Эллипс 1891 САГ» (диапазон длин волн 350-1000 нм) предназначен для проведения прецизионных измерений толщины однослойных и многослойных тонкопленочных структур, а также исследования спектральных оптических постоянных (показателя преломления и коэффициента поглощения), структурных свойств материалов (пористость; наличие, концентрация и распределение примесей в пленке) во всем спектральном диапазоне. Прибор Agilent B1500A в комплексе с зондовой станцией РМ-5 (Cascade Microtech) позволяет проводить измерения электрофизических свойств полупроводниковых структур (вольт-амперные и вольт-фарадные характеристики). Измерительный комплекс, состоящий из анализатора частотного отклика (импедансометра) Solartron 1260A, потенциостата/гальваностата Solartron 1287 измерительной ячейки ProboStat, лифтовой печи и установки для приготовления газовых смесей ProGasMix позволяет проводить измерение электрохимических и электрофизических характеристик материалов в широком диапазоне температур (до 1200оС), в различных газовых средах, в диапазоне частот от 10 мкГц до 32 МГц. Установка для комплексного измерения диэлектрических свойств материалов Novocontrol Concept 40 (Novocontrol Technologies) позволяет проводить анализ диэлектрических и электрофизических свойств материалов в диапазоне частот от 3 мкГц до 30 МГц в диапазоне температур от -160 до +400 0С.Установка для комплексного измерения диэлектрических свойств материалов Novocontrol Concept 40 (Novocontrol Technologies) позволяет проводить анализ диэлектрических и электрофизических свойств материалов в диапазоне частот от 3 мкГц до 30 МГц в диапазоне температур от -160 до +400 0С. Вибрационный магнитометр Lake Shore 7410 позволяет проводить измерения намагниченности образцов в диапазоне от 10-7 до 103 Ам2/кг, создавать магнитные поля до 2,3 Тл в температурном диапазоне от 4,4 К до 450 К в инертной атмосфере или вакууме. Поворотный держатель позволяет определять лёгкие линии намагничивания.
Русский (РФ) 
English (UK) 
